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MarSurf GD 25粗糙度测量站
产品简介：
该计算机仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见表面参数和轮廓。
强大的 MarSurf XR 20 将数十年的表面度量经验与创新技术、方便阅读的图标和用户友好的操作员协助结合。
超过 100 种符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
所有表面参数的公差监控和统计
快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
全面的测量记录
根据标准选择滤波和扫描长度的自动功能
通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态/动态）
可调维护和校准间隔
快速熟悉操作原理的模拟模式
多种测量站配置可使用自定义应用
测量原则：探针法
技术参数：
测量量程： | ±25, ±250, ±500 um |
粗糙度轮廓分辨率： | 垂直方向：±25 微米量程为0.5纳米. ±250微米量程为5纳米 |
±2500微米量程为50纳米 ( 102,538 步/垂直方向量程) | |
水平方向：0.07--5 微米 (按扫描长度而定) | |
垂直放大率： | 200,000 |
水平放大率:： | 00,000 |
精度： | 优于ISO/DIN 标准1级精度 |
轮廓类型： | D,P,W,R |
滤波器类型： | 按照DIN 4777 规定的轮廓滤波器(数字式和相位修正式) , RC 滤波器(数字式), 按 DIN4776 规定的专用滤波器. |
截止波长： | 0.08 / 0.25 / 0.8 / 2.5 / 8 mm |
扫描长度： | 0.56 / 1.75 / 5.6 / 17.5 / 56 mm |
特殊驱动长度： | 0.1mm进给量 |
评定长度： | 0.4 / 1.25 / 4.0 / 12.5 / 40mm |
所有基于DIN/ ISO (包括MOTIF), ASME, JIS标准的参数 | Ra, Rz, Rmax, S(RS),RPc,Rz(JIS),R3z,Sm(RSm), tp(RMr),Rp, Pt, Rt, Rq, RzISO, R3z, PSm, PMr,Wt,Rsk,Pc,Rku,Rdq,Rlq,Rdc,RHSC |
按DIN4776 规定的参数) | (Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2… … |
可测波纹度参数, | 如:Wa,Wt,Wc等 |
EN ISO 13565标准 | Rk, Rvk, Rpk, Rpkx, Rvkx , |
EN ISO 12085(Motif)标准: | R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, CMP, Sr, Sar, Sw, Saw |
可测特征曲线： | 如：轮廓曲线, 材料支承曲线(埃伯特曲线), 幅值密度曲线, 未滤波轮廓P和波纹度轮廓W的显示或打印 |
表面参数 | 超过 100 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的 表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
Gd25粗糙度驱动器：
测量长度：20mmRz 残值： < 30 nm
测速：0.5mm/s或0.1mm/s,可调电动高度调整：4 mm
直线度误差：0.2um/20mm 平面上手动调整倾斜： ± 10um/mm