XCR20粗糙度轮廓仪

• 产品简介

  MarSurf XCR 20 是 Mahr最顶尖的表面测量设备。                                                        

  一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估

  据测量任务，可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量，或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。

  节省空间型设计：两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱

  只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量

  两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。

  使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和极高的分辨率

  可自动跨越沟槽功能；编程后,测针到达直壁沟槽前能自动抬升测针,跨越直壁沟槽后,自动下降到工件表面继续测量，不需手动协助

  轮廓测量结果的比对，既可与样件测量结果比较,也可与理论轮廓比较（CAD导入图形）

  测针爬升与下降角度大，上升角度为77º,下降角度为88º，能够测量多种大角度复杂形状的零件；

• 粗糙度技术参数                                                    

  测量原理：机械式指针接触测量,配有 MFW250,                                                  

  测量量程：±25, ±250, ±500 um                                                

  粗糙度轮廓分辨率：                                                    

  垂直方向：50 微米量程为0.8纳米；500微米量程为8纳米                                                        

  水平方向：0.56 毫米为35 纳米;1.75毫米为100纳米；5.6毫米为350 纳米; 17.5毫米为1微米

  分辨率：垂直方向60,000:1；水平方向：16,000:1                                                      

  垂直放大率：200,000；水平放大率：100,000                                                      

  精度：优于ISO/DIN 标准1级精度(相对误差<5%)                                                

  轮廓类型：D,P,W,R (轮廓测量可倒置)                                                    

  滤波器类型:按照DIN 4777 规定的轮廓滤波器(数字式和相位修正式),RC 滤波器(数字式), 按 DIN4776 规定的专用滤波器。

  截止波长：0.08   /  0.25   /  0.8  /  2.5   /   8  mm                                                    

  移动长度：0.56   /  1.75   /  5.6  /  17.5  mm                                                    

  测量长度：0.4    /   1.25   / 4.0   /  12.5  mm                                                    

  特殊移动长度： 0.56 …..17.5mm可调                                                  

  可测8类参数 : 所有基于DIN/ ISO (包括MOTIF), ASME, JIS标准的参数

  粗糙度参数: Ra,Rq, Rz（Ry根据JIS符合Rz), Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp(Rpm根据ASME符合Rp),Rv,R3z, RSm,Rs(Rs根据JIS符合S），Rsk,Rku,Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr(tp) Ra,Rq, Rz（Rz-ISO),Ry(根据JIS符合Rz), Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp(Rpm根据ASME符合Rp),Rv,R3z, RSm,Rs(Rs根据JIS符合S合S），Rsk,Rku,Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr(tp) ,RzJIS，Rt,Rsk, Rp3z,Rc,R3z,R3y

  核心粗糙度参数:      Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo                                      

  P轮廓参数：   Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,PPc,PMr,Pz,Pa,Pq,Pmr,lp,tpaf,tpaa,tpab,

  W波度轮廓参数：  Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMr,Wp, Wz,lw

  Motif参数：    R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL                                              

  ISO5436的参数：    Pt(ISO5436),D                                        

  参数列：Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L

  “外貌波度轮廓”选配：WDSmMin,WDSmMax,WDSm,WDc,WDt                                          

  可测特征曲线：如：轮廓曲线, 材料支承曲线(埃伯特曲线), 幅值密度曲线, 未滤波轮廓P和波纹度轮廓W的显示或打印

• 轮廓度技术参数：                                                

  扫瞄长度 (X方向)：0.2 mm 至 200 mm                                                  

  测量范围 (Z方向)：50 mm, 适用于350 mm测臂；25 mm, 适用于175 mm测臂

  测量系统 (X方向)：高精度光栅测量系统   (出厂经激光干涉仪校准)

  测量系统 (Z方向)：电感传感器*, 高精度, 高线性度                                                      

  测针分辨率( Z方向)：0.38 μm, 适用于350 mm测臂；0.19 μm, 适用于175 mm  测臂测

  测点距离 (X方向) ：1.0 μm 至 8.0 μm                                                

  测量系统分辨率( Z方向)：0.04 μm                                                      

  行程偏差 < 1 μm  (在120 mm全行程内)                                                      

  测力 (Z方向)： 1 mN 至 120 mN, 向下和向上  (可在 MarSurf XC 20 设定)

  行程升角：在光滑表面, 取决于表面倾斜程度：向下降低时不超过 88°, 向上上升时不超过77°

  测量速度 (X方向)：0.2 mm/s 至 4 mm/s                                                        

  调整间距：0.1 mm/s (0.0039 in/s)                                                  

  接触速度 (Z方向)：0.1 mm/s 至 1 mm/s  可调                                                        

  定位速度 (X方向)及返回速度： 0.2 mm/s 至 8 mm/s                                                    

  测臂长度：175 mm, 350 mm                                                  

  测针半径：25 μm